NI SCXI-1193 256×1 高密度多路复用开关模块 – 自动化测试系统 (ATE) 路由核心！

描述

NI SCXI-1193：这款高密度多路复用开关模块，是 NI 自动化测试系统里的“连接大师”和“硬通货”！它提供极高的通道密度（如 256×1 或 128×2 配置），用于将激励源或测量仪器路由至待测设备 (DUT) 的多个点位。通道数：高达 256个开关点，配置类型：多路复用/矩阵，应用领域：自动化测试 (ATE)。专治各种高通道数、复杂信号调度环境下的连接难题。

SCXI-1193 产品概述

老哥你问的 NI SCXI-1193 模块，在咱们做自动化测试设备 (ATE, Automated Test Equipment) 这块，那真是信号路由的中枢神经。它可不是用来采集信号的，它的核心任务是切换 (Switching) 和连接 (Connectivity)。想象一下，一个复杂的电子产品或线束需要进行数百个点的测试，你不可能手动去插拔探头，这时候就得靠 NI SCXI-1193 这种高密度开关模块来帮忙。它能够根据你的测试程序，快速、可靠地将测量仪器（比如万用表、示波器、DAQ 卡）路由到待测设备 (DUT, Device Under Test) 上的任意一个或多个测试点。

NI SCXI-1193 模块的强大之处在于它的超高密度和灵活的配置。它通常被配置成多路复用器 (Multiplexer) 模式（比如 256×1 或 128×2），这意味着它可以将一个测量通道连接到 256 个不同的输入点中的任意一个，或者将两个测量通道连接到 128 对不同的输入点。这种高通道密度的设计，使得单个 SCXI-1193 模块就能取代数十个甚至上百个传统继电器，极大地节省了空间、降低了成本，并且提高了测试速度 (Test Throughput)。它在自动化生产线、半导体测试以及汽车电子等领域，是实现高效、大规模测试的不可或缺的硬件核心。

NI SCXI-1193

SCXI-1193 技术规格

主要特点和优势

超高通道密度：老哥，SCXI-1193 的“杀手锏”就是它的高密度 (High Density)。在自动化测试行业，空间就是金钱。这块模块能够在单个 SCXI 插槽内，提供多达 256 个独立的开关点，这通道数简直了！它使得你能够在一个机箱内集成数百个测试点，从而大幅度缩小测试系统的体积，并且极大地提高了测试的效率和灵活性。它完美解决了大规模线束、多点温度或电压监测的布线和切换复杂性。

灵活的配置能力：NI SCXI-1193 不仅仅通道多，还能“变身”。它不仅可以作为简单的多路复用器 (Multiplexer) 使用，将一路仪器信号路由到多路待测点，也可以配置成独立开关，用于控制电源、加载或简单的数字逻辑。这种通用开关 (General-Purpose Switching) 能力，让 SCXI-1193 成为自动化测试方案设计中的瑞士军刀，适应性极强。通过软件编程，你可以实现复杂的信号路由 (Signal Routing) 策略，满足几乎所有的测试流程需求。

高可靠性与开关寿命：作为自动化测试系统的核心，继电器开关 (Relay Switching) 的可靠性至关重要。NI SCXI-1193 使用的继电器经过严格筛选，拥有超长的机械和电气寿命，能够承受数百万次的切换操作。在高速、高频次的自动化测试环境中，这种高可靠性保障了测试系统的连续运行时间 (Uptime) 和低维护成本 (Low Maintenance Cost)，是保证生产效率的关键。

Core Features and Advantages of SCXI-1193

The NI SCXI-1193 module is defined by its exceptional channel density and flexible switching architecture, making it a primary component in Automated Test Equipment (ATE). Its paramount feature is its ability to provide up to 256 single-pole/single-throw (SPST) switch points within a single SCXI slot, which drastically reduces the physical footprint and complexity of high-channel-count test systems. This high density is crucial for testing components like wiring harnesses, multi-point sensors, or complex electronic modules where hundreds of connection points must be accessed sequentially.

The module offers high configuration versatility, primarily operating as a high-speed multiplexer (e.g., 256×1) to route a single measurement instrument to numerous test points, or as an array of independent relays for controlling power, loads, or simple digital I/O. This general-purpose switching capability, driven by reliable electromechanical or reed relays, is managed entirely through software, enabling engineers to implement sophisticated signal routing strategies with high throughput. The guaranteed long relay life of the SCXI-1193 ensures operational longevity and minimizes maintenance needs in demanding, continuous-cycle production test environments.

应用领域

NI SCXI-1193 模块的应用领域，都集中在对通道数、切换速度和自动化程度有极高要求的测试系统。

汽车电子与线束测试：在汽车电子 (Automotive Electronics) 制造业中，需要对复杂的车内线束进行连接性测试 (Continuity Test) 和绝缘测试 (Insulation Test)。SCXI-1193 的超高通道密度能够一次性接入整个线束，通过快速切换，实现对数千个连接点的自动化、高速扫描，极大地缩短了生产线上的测试时间。

半导体与元件测试：在半导体 (Semiconductor) 晶圆或元件的最终测试 (Final Test) 环节，需要将各种精密仪器连接到芯片上的数百个引脚。NI SCXI-1193 充当了仪器和探针卡之间的路由矩阵，精确地调度信号，确保每个引脚都能按照测试程序要求被测量。

高通道数传感器监测：在大型结构或环境试验箱中，需要同时监测数百个温度、压力或应变传感器。SCXI-1193 作为多路复用器，将这些传感器信号依次路由到高精度的 DAQ 卡上进行采集，实现了高密度数据采集的经济性和效率。

相关产品

SCXI-1193 是高密度开关的核心模块，它通常需要搭配以下硬件才能工作，并与其他开关模块互补：

SCXI-1000/SCXI-1001: SCXI-1193 模块必须插入的机箱，提供供电和通信。

NI DMM (e.g., PXI-407x): 通常与 SCXI-1193 配合使用的数字万用表 (DMM) 模块，作为测量仪器，由开关模块负责路由。

SCXI-1393: SCXI-1193 模块专用的高密度终端块 (Terminal Block)，用于接入大量的输入/输出线缆。

SCXI-1127/SCXI-1129: SCXI 家族中其他类型的矩阵或开关模块，提供不同的开关能力（如高压、高电流或射频），作为 SCXI-1193 的功能补充。

NI PXI Switches: NI PXI 平台上的高性能开关模块，如 PXI-2530B 系列，是 SCXI-1193 系统的现代化升级替代方案，具备更高的切换速度和集成度。

NI SCXI-1193

安装与维护

安装前准备:老哥，安装 NI SCXI-1193 模块前，必须保证 SCXI 机箱已断电。由于它是高密度开关模块，接线工作量大，必须事先规划好线缆标签和路由图。将模块平稳地插入机箱插槽，确认前面板螺丝或卡扣已固定。SCXI-1193 必须搭配专用的高密度终端块 SCXI-1393 使用，在接线时要确保每个引脚的连接牢固可靠，避免虚接导致的开关故障或接触电阻增大。安装完成后，通过 NI Measurement & Automation Explorer (MAX) 软件检查模块状态和通信是否正常。

维护建议: NI SCXI-1193 的维护重点是继电器寿命和接触电阻的监控。由于它使用了机电式继电器，开关次数是有限的，应定期通过软件查询其开关计数 (Cycle Count)，并在接近寿命时计划更换。如果测试结果出现不一致或漂移，通常是由于继电器触点磨损导致接触电阻 (Contact Resistance) 增大，这时候需要通过 NI Switch Executive 或定制软件进行诊断性测试。