描述
关键技术规格
- 产品型号: AMAT 0200-36118
- 制造商: Applied Materials, Inc.
- 所属系统: Centura、Endura、Producer 等 PVD/CVD 半导体薄膜沉积平台
- 密封类型: O型圈(O-Ring)组件,通常包含主密封圈及辅助密封件
- 材料等级: 全氟醚橡胶(FFKM),如Kalrez® 4079 或 Chemraz® 505,符合 SEMI F57 标准
- 洁净等级: Class 100(ISO 5)或更高洁净室包装,无颗粒、无有机挥发物(VOC)
- 耐化学性: 耐受CF₄、SF₆、Cl₂、O₂ 等高能等离子体及强腐蚀性工艺气体
- 工作温度范围: -20°C 至 +327°C(连续)
- 真空兼容性: 适用于高真空(HV)及超高真空(UHV)环境,放气率 <1×10⁻⁹ Torr·L/s·cm²
- 认证要求: 符合 RoHS、REACH、FDA(如适用)及半导体行业材料管控规范
- 包装方式: 双层防静电铝箔袋,氮气填充,附唯一批次标签与材质证书
功能定位与应用场景分析
AMAT 0200-36118 并非普通工业密封件,而是Applied Materials为其高端半导体制造设备定义的关键工艺耗材。它在薄膜沉积过程中承担着维持工艺腔室气密性的核心任务——任何微小的泄漏都可能导致工艺气体污染、膜厚不均、颗粒生成,甚至整批晶圆报废。因此,该组件的材料纯度、几何精度和批次一致性直接关系到设备的uptime(可用时间)与良率(Yield)。
该密封组件专为Centura和Endura平台的Transfer Chamber、Process Chamber或Gas Box接口设计,采用高成本的全氟醚橡胶(FFKM),在反复暴露于高能等离子体和高温循环后仍能保持弹性与密封力。相比普通FKM(氟橡胶),FFKM具有更低的颗粒析出率和更高的耐等离子体侵蚀能力,是先进制程(≤28nm)的标配材料。
典型应用场景包括:
- PVD(物理气相沉积)腔室维护:在Endura系统的Ti/TaN沉积腔中,作为腔门主密封,防止Ar溅射气体外泄。
- CVD(化学气相沉积)工艺更换:在Centura HDP-CVD模块进行预防性维护(PM)时,更换老化O型圈以恢复腔室真空性能。
- 新机台装机或翻新:作为原厂推荐备件,用于设备出厂调试或二手设备再认证(Recertification)。
- Fab厂备件库存管理:作为高消耗率的关键耗材,纳入AMAT eSupply或客户自有MRO系统进行生命周期跟踪。
质量标准与测试流程
在半导体制造中,一个不合格的密封件可能造成数百万美元的晶圆损失。因此,我们对每一批次的 AMAT 0200-36118 执行远超常规工业标准的验证流程:
- 材料与批次追溯:核对原厂包装标签、批次号,并验证随附的材质证书(CoC)与MSDS,确保材料为指定FFKM牌号(如Kalrez 4079)。
- 洁净度与外观检查:在Class 1000环境下开箱,使用高倍放大镜检查O型圈表面无划痕、气泡、杂质或脱模剂残留。
- 尺寸与硬度验证:使用数显卡尺和邵氏硬度计抽样检测内径、线径及硬度(典型 Shore A 75±5),偏差控制在AMAT公差范围内(通常±1%)。
- 真空兼容性预筛查:对关键批次进行模拟烘烤(150°C, 24h)后称重,评估质量损失(TML)是否符合半导体级要求。
- 质保承诺:仅当所有验证项通过后,产品方可交付。我们提供12个月储存期质保(未开封),并支持客户在安装前申请第三方氦质谱检漏复测支持。
兼容性与升级路径
为确保 AMAT 0200-36118 在您的设备上实现“一次安装,零泄漏”目标,请在采购前确认以下关键信息:
- 设备平台与腔室位置:该型号主要用于Centura Transfer Module或Endura Loadlock,但不同子型号(如0200-36118 Rev A vs Rev B)可能对应不同腔室。请提供设备序列号或腔室照片以精确匹配。
- 材料版本确认:AMAT可能在不同生产周期使用不同FFKM供应商(如Chemraz替代Kalrez)。虽然功能等效,但部分Fab厂有材料批准清单(AML),需提前确认。
- 替代关系:此为AMAT原厂P/N,无直接第三方替代品。使用非认证密封件可能导致设备 warranty void 或工艺异常。




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功能定位与应用场景分析
兼容性与升级路径

